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关于征求<<无损检测 射线照相底片像质>>五项国家标准意见的通知

作者:无损标委会 来源:SAC/TC56

发布时间:2018-07-11


 

国家标准《无损检测射线照相底片像质 第1部分:线型像质计 像质指数的测定》、《无损检测射线照相底片像质 第2部分:阶梯孔型像质计 像质指数的测定》、《无损检测射线照相底片像质 第3部分: 像质分类》、 《无损检测射线照相底片像质 第4部分:像质指数和像质表的实验评价》和《无损检测射线照相底片像质 第5部分:双线型像质计图像不清晰度的测定》, 根据标准制修订程序要求现公开征求意见

2018_15关于征求五项国家标准意见的通知_页面_2.jpg

射线照相底片像质

五项标准概述



第1部分:

线型像质计 像质指数的测定

主起草单位

上海航天动力科技工程有限公司等

概述

本部分规定了使用丝型像质计确定射线检测图像质量的器材和方法。 


第2部分:

阶梯孔型像质计 像质指数的测定

主起草单位

上海空间推进研究所等

概述

本部分规定了使用阶梯孔型像质计确定射线检测图像质量的器材和方法。

本部分适用于使用阶梯孔型像质计测定射线检测像质值。


第3部分:像质分类

主起草单位

上海空间推进研究所等

概述

本部分规定了射线检测时需达到的像质值,以确保相同的射线检测图像质量评价。

第4部分:

像质指数和像质表的实验评价

主起草单位

上海航天动力科技工程有限公司等

概述

本部分规定了像质值和像质表的确定方法。

    如GB/T 23901第3部分要求的像质计不适用于检测,例如,因为像质计材料的衰减系数与被检材料的衰减系数相差超过30%,宜做曝光实验以确定可接受的像质值。以曝光实验评价确定的像质值适用于相同透照条件下所有工件的检测。


第5部分:

双线型像质计 图像不清晰度的测定

主起草单位

上海航天动力科技工程有限公司等

概述

本部分规定了射线检测图像总不清晰度和基本空间分辨率的测定方法。对于13组丝对的双丝像质计适用的管电压范围高达600kV。超过13组丝对的双丝像质计适用的管电压范围低于225kV。当使用超过1MeV的高能射线检测时,可参照使用双丝型像质计,但测定结果可能存在一定的不确定度。


为确保标准的质量和水平, 有利于标准的实施, 希望各单位组织有关专业人员对标准征求意见稿提出宝贵意见和建议,并务必于 2018年8月22日前将意见回函单返回至:全国无损检测标准化技术委员会秘书处

参与

点击阅读左下蓝色字体阅读原文下载意见稿、编制说明和征求意见回函单。

关注公众号点击底部征求意见可以下载附件。



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撰稿:无损标委会

邮箱:srimndt@126.com,

传真:021-65556775-394

网址:http://tc56.org.cn

代号:SAC/TC 56 



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