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X射线数字成像检测国家标准宣贯会

作者:无损标委会 来源:SAC/TC56

发布时间:2018-07-03

X射线数字成像检测国家标准宣贯会

 

为了积极响应国家有关规定和要求,促进新标准有效实施,由“全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC 56)”主办、上海材料研究所承办的3项“X射线数字成像检测标准宣贯会”,于2018年6月7日-2018年6月8日,在上海材料研究所举办,来自全国各地的50余位无损检测工作者参加了此次宣贯会。

X射线数字成像检测国家标准宣贯会.png

上午8:30,全国无损检测标委会秘书处丁杰秘书长、广东盈泉高新材料有限公司的曾祥照高级工程师分别介绍了国家标准修订工作和三项国家标准的编制工作。上午9时许,为期两天的标准宣贯会拉开序幕。本次标准宣贯会,SAC/TC 56秘书处非常荣幸地邀请到了业内的资深专家,对标准进行详细的讲解和答疑。来自于清华大学的肖永顺教授,负责宣讲GB/T 35389-2017《无损检测 X射线数字成像检测 导则》;来自于中国工程物理研究院机械制造工艺研究所的孙朝明高级工程师,负责宣讲GB/T 35394-2017《无损检测 X射线数字成像检测 系统特性》;来自于兰州瑞奇戈德测控技术有限公司的孙忠诚教授,负责宣讲GB/T 35388-2017《无损检测 X射线数字成像检测 检测方法》。

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秘书处 丁杰

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曾祥照 高工

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清华大学 肖永顺教授

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中国工程物理研究院机械制造工艺研究所 

孙朝明高工

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兰州瑞奇戈德测控技术有限公司 孙忠诚教授

 

宣贯会的学习气氛浓郁,各位专家倾囊相授,讲解细致入微。在会间休息时,也不辞辛劳地对参会人员提出的问题进行详细解答。经过两天的培训交流,本次宣贯会得到很多参会人士的高度好评,并希望SAC/TC 56秘书处能多举办类似的有意义的宣贯活动。

 


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